一、产品概述 JW3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、
光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和
系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的
*优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、
光源，并具有数据存储功能。
二、技术指标
光回损测试
测试波长（nm）
1310/1550
谱宽（nm）
<5
显示范围（dB）
6~70
精度（dB）
±0.5
分辨率（dB）
0.01
光功率计
波长范围（nm）
850 ～ 1650
校准波长（nm）
850、 1300、 1310 、 1490、 1550 、 1625
检测器类型
InGaAs
显示模式
dBm 、dB 、W
显示范围（dBm）
－70 ～＋6
*大输入功率（dBm）
＋6
0.3
光源
波长（nm）
*大输出功率（dBm）
-3
稳定度（dB，30min）
± 0.05
调制频率（HZ）
CW, 270, 1K, 2K