双晶直探头DA5P10FS5

双晶直探头具有独立发射和接受的晶片，在工件中产生一定聚焦长度的双晶片换能器。主要应用于腐蚀检测、涂层测量、剩余壁厚测量、近表面缺陷检测、高衰减材料检测以及铸锻件中裂纹、气孔、夹杂物、孔隙度的检测。

1. 没有始波盲区的影响；

2. 散射小，能提高在高衰减高散射材料检测中的信噪比；

3. 在弯曲的曲面或粗糙面中耦合效果好；

4. 两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。

   (1) "PL"通用型系列: 

          用于需要高灵敏度与穿透力并对分辨率、带宽要求不高的应用场合。

   (2) "C"压电复合陶瓷系列:

         保证在高衰减材料的检测中具有很高的信噪比，并将灵敏度、分辨率和穿透力**结合。