奥林巴斯72DL PLUS超声测厚仪
72DL PLUS超声测厚仪
通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
奥林巴斯72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用，可以提供**的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、**算法和奥林巴斯迄今为止测量*低的*小厚度的能力，可使您充满信心地测量超薄层的厚度，完成具有挑战性的应用。
72DL PLUS测厚仪提供标准频率和高频率两种型号。高频率型号可以测量超薄材料，包括多层漆料、塑料、金属和涂层，其多层测量软件可以同时显示*多六个独立层的厚度。所有72DL PLUS型号都具有快速、准确测量厚度的功能。