贝克休斯MB4S直探头
应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体
特点
纵波单晶探头
适合DGS缺陷评判
性能参数误差小，适合高精度检测
可更换保护膜，保护探头不被磨损
柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合
合金压铸壳体，坚固耐用
用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）
系列
型号
频率(MHZ)
接口方向
带宽
晶片直径
接口类型
保护膜
MBS
MB1S
1
侧装
25
10mm
Lemo 00
ES24
MB2S
2
MB2S-EN
MB4S
4
MB4S-EN
MB5S
5
MB6S
6
MB2S-O
顶装
MB4S-O
MB5S-O