OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减
以下技术规格适用于所有OmniScan X3和OmniScan X3 64型号。
• 数据技术规格 • 声学技术规格 • TFM/FMC • 操作环境
类型