美国GE SEB 4-EN双晶直探头
特性
独立的声波发射和接收单元
纵波垂直传输
小焦距探头具有非常好的近场分辨率
使用耐磨的塑料延迟块，即使在粗糙或弯曲的表面也能很好耦合性
延迟块由一个金属环保护以防磨损
在焦点内特别适合剩余壁厚的测量
加上特殊的延迟块（定制产品）能够在高温表面测量
应用
近表面的小缺陷探测和评估
焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测
腐蚀、锈蚀剩余壁厚的测量（包括高温情况下测量）
粘结检测
螺钉，螺栓，销钉
覆层和堆焊层
轴，杆，方坯芯检测
粗晶材料
系列
型号
频率
(MHz)
焦距
(mm)
单晶片尺寸
外观尺寸
带宽
接口类型
接口方向
SEB
SEB 1
1
20
Φ21半圆
类型15
40
双联
Lemo 00
侧装
SEB 1-EN
SEB 2
2
15
7x18
SEB 2-EN
SEB 2-0°
30
SEB 2-EN-0°
SEB 4
4
12
6x20
SEB 4-EN
SEB 4-0°
25
SEB 4-EN-0°
MSEB
MSEB 2
8
Φ11半圆
类型16
MSEB 2-EN
MSEB 4
10
3.5x10
MSEB 4-EN
MSEB 4-EN-0°
18
MSEB 4-0°
MSEB 5
5
Φ9半圆
SEB KF
SEB 2 KF 5
6
Φ8半圆
类型17
30-60
Microdot
X2
SEB 4 KF 8
SEB 4 KF 8-EN
SEB 5 KF 3
3
SEB 10 KF 3
Φ5半圆
类型18