MSEB4-EN-0°直探头MSEB4-EN-0°保护膜价格
特性
独立的声波发射和接收单元
纵波垂直传输
小焦距探头具有非常好的近场分辨率
使用耐磨的塑料延迟块，即使在粗糙或弯曲的表面也能很好耦合性
延迟块由一个金属环保护以防磨损
在焦点内特别适合剩余壁厚的测量
加上特殊的延迟块（定制产品）能够在高温表面测量
应用
近表面的小缺陷探测和评估
焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测
腐蚀、锈蚀剩余壁厚的测量（包括高温情况下测量）
粘结检测
螺钉，螺栓，销钉
覆层和堆焊层
轴，杆，方坯芯检测
粗晶材料
火车车轮
SEB.. 用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）。
SEB1铜棒中心缺陷
MSEB.. 常用于所有类型小零件（如螺杆、螺钉、螺母、销钉、轴承环、轴承和装配材料）的检测，也可用于壁厚和剩余壁厚的测量（如被腐蚀和侵蚀的管子、容器和机械零件）。
MSEB5弯曲处剩余壁厚的测量
MSEB4金属融渣裂缝
SEB..KF
体积小巧的小直径特殊探头，用于近表面小缺陷的探测。小巧的形状使这种类型的探头可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的检测。
SEB10KF3插口焊接点
选型
类型15/类型16
类型15
类型16
类型17/类型18
类型17
类型18
A: 30mm
A: 20mm
A: 14mm
B: 65mm
B: 45mm
B: 17mm
C: 28.5mm
C: 16.5mm
C: 13mm
C: 7.5mm
D: 10mm
D: 5mm
D: 6.4mm
系列
型号
频率
(MHz)
焦距
(mm)
单晶片尺寸
外观尺寸
带宽
接口类型
接口方向
SEB
SEB 1
1
20
Φ21半圆
40
双联
Lemo 00
侧装
SEB 1-EN
SEB 2
2
15
7x18
SEB 2-EN
SEB 2-0°
30
SEB 2-EN-0°
SEB 4
4
12
6x20
SEB 4-EN
SEB 4-0°
25
SEB 4-EN-0°
MSEB
MSEB 2
8
Φ11半圆
MSEB 2-EN
MSEB 4
10
3.5x10
MSEB 4-EN
MSEB 4-EN-0°
18
MSEB 4-0°
MSEB 5
5
Φ9半圆
SEB KF
SEB 2 KF 5
6
Φ8半圆
30-60
Microdot
X2
SEB 4 KF 8
SEB 4 KF 8-EN
SEB 5 KF 3
3
SEB 10 KF 3
Φ5半圆
SEB 10 KF 3-EN
MSEB2
MSEB4
SEB2 EN
SEB2
SEB4