38DL PLUS**超声测厚仪
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38DL PLUS**超声测厚仪:
• 可与双晶和单晶探头兼容。 • 宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。 • 使用双晶探头进行腐蚀测厚。 • 穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。 • 内部氧化层/沉积物软件选项。 • 对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。 • 使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。 • 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。 • 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。 • 厚度、声速和渡越时间测量。 • 差分模式和缩减率模式。 • 时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。 • 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。 • 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 • 设计符合EN15317标准。
38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求,而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗,38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器,那么,符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。
38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。 • 内置存储容量为475000个厚度读数或20000个带有厚度读数的波形。 • 32位字符的文件名称。 • 20位字符的ID# (TML#)编码。 • 9个文件格式:增量型、序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、3-D自定义型、锅炉型及手动型。 • 每个ID# (TML)编码可*多存储4个注释。 • 注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上。 • 内置和外置MicroSD存储卡。 • 可以在内置和外置MicroSD存储卡之间拷贝文件。 • 标准USB和RS-232通信。 • 单晶和双晶探头设置的双向传输。 • 机载统计报告。 • 机载DB栅格视图,带有3种可编程的颜色。 • GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信,可以读取MicroSD存储卡上的数据,还可以在存储卡上写入信息。 • 可将内部文件以与Excel兼容的CSV(以逗号分隔值)格式直接导出到MicroSD存储卡。
38DL PLUS数字式超声测厚仪,交流电源或电池供电,50 Hz~60 Hz。 标准双晶探头套装盒 • 充电器/AC适配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC) • 内置数据记录器 • GageView接口程序 • 试块和耦合剂 • USB线缆 • 橡胶保护套,带有支架和颈挂带 • 用户手册 • 两年有限担保 测量功能:穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、*小值/*大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/*小值模式.
38DL PLUS是一款**超声测厚仪。这款仪器可使用双晶探头对内部腐蚀的部件进行检测。其性能包含THRU-COAT®(穿透涂层)和回波到回波。还可以使用单晶探头对薄材料、极厚材料以及多层材料进行非常**的厚度测量。
38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中*常使用的是双晶探头。 • 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。 • 10个自定义双晶探头设置。 • 校准过程中用于双晶探头的优化默认增益。 • 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 • 校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。 • 用于测量带有漆层和涂层表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。 • 高温测量:温度可高达500°C。 • 锅炉管件和内部氧化层测量(可选项),使用M2017或M2091单晶探头。 • EMAT探头(E110-SB),用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量。