CTS-2009多通道TOFD超声波探伤仪功能强大的离线分析软件
CTS-2009多通道TOFD超声波探伤仪主分析软件
SAFT处理前 SAFT处理后
2 曲面工件检测工艺计算
提供凹面及凸面工件检测工艺计算,快捷得出弧长、PCS、弦高等工艺参数,弧长用于调节探头间距,弦高用于修正缺陷高度。
3 多通道检测工艺计算
支持国内NB/T47013及DL/T330两种标准,可同时设计5个通道的检测参数,满足400mm厚度焊缝的检测工艺。可快捷计算TOFD常用的工艺参数如探头中心间距(PCS)、深度覆盖范围、底面覆盖、时差周期、深度分辨力、扫查面盲区、中心底面盲区、轴偏离底面盲区。
CTS-2009多通道TOFD超声波探伤仪配套探头及楔块
系列探头的频率范围为1MHz至10MHz,晶片尺寸范围为3mm至20mm,系列楔块的角度为45°、60°及70°,满足标准推荐使用的要求,覆盖400mm厚度的检测要求。探头接口规格为L5或C5接口。
探头规格:
型号说明:以10N3-T1为例,10表示探头频率,N表示晶片材料代号,3表示晶片直径,T1表示探头外壳型号。
CTS-2009多通道TOFD超声波探伤仪楔块规格:
型号说明:以ST1-45L为例,ST1表示楔块型号,匹配的探头外壳型号为T1,45表示钢中折射角为45°,L表示检测波形为纵波。
CTS-2009多通道TOFD超声波探伤仪符合国内标准的应用 GB/T 23902-2009 无损检测 超声检测 超声衍射声时技术检测和评价方法 DL/T 330-2010 水电水利工程金属结构及设备焊接接头衍射时差法超声检测NB/T47013.10-2010(JB/T 4730.10) 承压设备无损检测 第10部分:衍射时差法超声检测 CTS-2009多通道TOFD超声波探伤仪符合国外标准的应用 欧盟: BS 7706-1993 Guide to Calibration and setting-up of the Ultrasonic Time of Flight diffraction (TOFD) technique for defect detection, location and sizing of flaws ENV583-6-2000 Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities DD CEN TS 14751-2004 Welding Use of time of flight diffraction technique (TOFD) for examination of welds NEN1822 Acceptance criteria for the Time of Flight Diffraction inspection technique BS EN 15617-2009 Non-destructive testing of welds Time of flight diffraction technique (TOFD) Acceptance levels 美国: ASTM E2373-2009 Standard Practice for Use of the Ultrasonic Time of Flight Diffraction (TOFD) Technique ASME Code Case 2235-9 Use of Ultrasonic Examination in Lieu of Radiography 2010 ASME Boiler and Pressure Vessel Code V Nondestructive Examination AWS D1.1/D1.1M:2010 Structural Welding Code-Steel 日本: NDIS2423-2001 TOFD法によるきず高さ測定方法 国际: ISO 10863-2011 Non-destructive testing of welds - Ultrasonic testing - Use of time-of-flight diffraction technique (TOFD) ISO 15626-2011 Non-destructive testing of welds - Time-of-flight diffraction technique (TOFD) - Acceptance levels ISO 16828-2012 Non-destructive testing - Ultrasonic testing - Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities
应用图片: